Настоящие технические условия распространяются на Сканирующий

Зондовый Микроскоп NTEGRA (далее - прибор), предназначенный для

измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхностей

конденсированных сред с атомарным разрешением.Область применения:

микро-, опто-, наноэлектроника, нанотехнология, микромеханика,

фармацевтика и микробиология, производство полимеров и генная

инженерия, создание наноструктурных материалов, запоминающих сред,

химия и химическая технология, металлургия.Может применяться как в

условиях научных и промышленных исследовательских лабораторий, так и

в условиях высших и средних специальных учебных заведений.На

оборудование в составе комплекта поставки предоставляется гарантия

сроком 12 месяцев с момента поставки.На оборудование, входящее в

состав технических средств обучения (рабочие станции), поставляемое

по лоту - 3 года с момента поставки.