Настоящие технические условия распространяются на Сканирующий
Зондовый Микроскоп NTEGRA (далее - прибор), предназначенный для
измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхностей
конденсированных сред с атомарным разрешением.Область применения:
микро-, опто-, наноэлектроника, нанотехнология, микромеханика,
фармацевтика и микробиология, производство полимеров и генная
инженерия, создание наноструктурных материалов, запоминающих сред,
химия и химическая технология, металлургия.Может применяться как в
условиях научных и промышленных исследовательских лабораторий, так и
в условиях высших и средних специальных учебных заведений.На
оборудование в составе комплекта поставки предоставляется гарантия
сроком 12 месяцев с момента поставки.На оборудование, входящее в
состав технических средств обучения (рабочие станции), поставляемое
по лоту - 3 года с момента поставки. |