Настоящие технические условия распространяются на сканирующие

зондовые микроскопы SOLVER NEXT (ТУ 4254-004-40349675-2008), SOLVER

PRO (ТУ 4254-003-58699387-2004), NTEGRA (ТУ 4254-001-58699387-2004),

NANOEDUCATOR (ТУ 4254-002-58699387-2004), предназначенные для

измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности

конденсированных сред с атомарным разрешением.Область применения:

микро-, опто-, наноэлектроника, нанотехнология, микромеханика,

фармацевтика и микробиология, производство полимеров и генная

инженерия, создание наноструктурных материалов, запоминающих сред,

химия и химическая технология, металлургия, а также во всех областях

научной и производственно-технологической деятельности.Приборы могут

применяться как в условиях научных и промышленных исследовательских

лабораторий, так и в условиях высших, средних и специальных учебных

заведений.Возможности прибора:- Все основные методики атомно-силовой

микроскопии. Топография, отображение фазы, измерение электрических

характеристик, возможность нанолитографии.- Сканирующая туннельная

микроскопия.- Широкий диапазон контролируемых условий для проведения

эксперимента - на воздухе, в жидкости, в среде инертных газов, с

нагревом образца (только для приборов SOLVER NEXT, SOLVER PRO,

NTEGRA).- Сканер прибора оснащен емкостными низкошумящими датчиками

(только для приборов SOLVER NEXT, SOLVER PRO, NTEGRA) по трем

координатам, которые обеспечивают возможность метрологических

измерений.- Получение атомарного разрешения (только для приборов

SOLVER NEXT, SOLVER PRO, NTEGRA).